簡(jiǎn)介
IR孔透過(guò)率測試儀是一套全波長(cháng)的0度角透過(guò)率檢測儀,能快速準確地測量各類(lèi)平面光學(xué)元件的透光率,可用于實(shí)時(shí)在線(xiàn)檢測,實(shí)現產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。
特點(diǎn)
智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實(shí)時(shí)顯示測量樣品關(guān)注波長(cháng)位置的透/反射率數據,自動(dòng)調整顯示坐標范圍,高效地進(jìn)行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
譜圖管理:IR孔透過(guò)率測試儀可同時(shí)記錄多達20個(gè)樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時(shí)間,能對譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
自定義測量方案:用戶(hù)可以自行定義測量的方案,同時(shí)設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。
譜圖數據處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數據庫,可根據數據庫已存標準數據對比分析結果,用戶(hù)可自行對數據庫進(jìn)行添加、修改和刪除,還可將測量數據導入Excel有利于進(jìn)一步對譜圖進(jìn)行分析和研究。
CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數,x,y,L,a,b,飽和度,主波長(cháng)等。
數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱(chēng)。
技術(shù)參數
型號DMS(1型)DMS(2型)
探測器Sony線(xiàn)形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測范圍380-1000nm360-1100nm
波長(cháng)分辨率1nm1nm
信噪比(全信號)250:11000:1
相對檢測誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)
單次測量時(shí)間﹤1s
樣品尺寸≥Φ1mm
操作系統/接口WindowsXP,WindowsVista/USB2。0
電源/功率220V-50HZ/6W