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光學(xué)儀器及設備
透過(guò)率測試儀器
OVS-Micro透過(guò)率測試儀
透過(guò)率測試儀
product
產(chǎn)品分類(lèi)品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
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應用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,航空航天,汽車(chē)及零部件,綜合 |
透過(guò)率測試儀優(yōu)點(diǎn):
儀器精密小巧,攜帶方便。
測試速度極快,一秒出結果,實(shí)現產(chǎn)品全檢。
極小樣品的透過(guò)率檢測。
優(yōu)異的波長(cháng)重復性達0.1納米。
高精度的光度測定。
小化雜散光。
透過(guò)率測試儀軟件特點(diǎn):
智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實(shí)時(shí)顯示測量樣品關(guān)注波長(cháng)位置的透/反射率數據,自動(dòng)調整顯示坐標范圍,高效地進(jìn)行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
譜圖管理:可同時(shí)記錄多達20個(gè)樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時(shí)間,能對譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,很大程度地方便了譜圖的管理和分析。
自定義測量方案:用戶(hù)可以自行定義測量的方案,同時(shí)設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。
譜圖數據處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數據庫,可根據數據庫已存標準數據對比分析結果,用戶(hù)可自行對數據庫進(jìn)行添加、修改和刪除,還可將測量數據導入Excel有利于進(jìn)一步對譜圖進(jìn)行分析和研究。
CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數, x,y,L,a,b,飽和度,主波長(cháng)等。
數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱(chēng)。
技術(shù)參數:
型號 | OVS-Micro(I型) | OVS-Micro(II型) |
測量系統 | 單光束 | 單光束 |
探測器 | Sony線(xiàn)形CCD 陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
檢出限 | 0.1% | 0.01% |
相對檢測誤cha | ﹤0.6%(410-900nm) | ﹤0.4%(410-100nm) |
檢測范圍 | 380-1000nm | 360-1100nm |
波長(cháng)重復率 | 1nm | 1nm |
信噪比(全信號) | 250:1 | 450:1 |
樣品測試平臺 | X,Y軸可調 | |
光源 | 鹵素鎢燈 | |
孔徑大小 | 0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可選 | |
樣品大小 | ≥ 0.5mm | |
測量時(shí)間 | ﹤1s | |
對焦方式 | 數字相機視頻對焦 | |
物鏡 | 5X | |
電源供應器 | 5V/6W,可調節亮度,燈泡壽命5000小時(shí) | |
操作系統/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
體積/重量 | 30cm*29cm*35cm/8.5kg |